最新AFM技术与应用的学术报告通知
报告时间:2015年10月19日下午2点
报告地点:中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所D111
主办方:中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所,北京燕京电子有限公司、苏黎世仪器公司(Zurich Instruments)
报告人:Dr. Romain Stomp from Zurich Instruments (苏黎世仪器公司)
报告题目:Going beyond conventional scanning probe techniques: the power of multifrequency AFM
主持人:刘争晖
简介:本次学术报告的主要内容是基于原子力显微镜的配置,介绍多频激励和解调在改善SPM数据采集、反馈稳定性、多个针尖和样品之间的相互作用、扫描速度等方面的重要作用,同时介绍多频AFM在纳米力学(NC-AFM、CR)、电学(KPFM、PFM)、光学(SNOM)等领域的应用。
学术报告结束以后,对于讨论过程中的测量技术,提供现场演示。
主要内容:
动态SPM模式经常需要多个反馈回路、多个激励和解调,依据不同SPM测试平台的配置和模式,提供不同的解决方法:
报告人简介:
Dr. Stomp在加拿大麦吉尔大学Peter Grutter实验室获得博士学位,博士课题是低温下量子点的扫描探针显微镜(SPM)研究。自2006年以来,作为表面纳米分析专家,Dr. Stomp先后为数家业内领先的公司工作,如Nanonis,SPEC等,致力于SPM与光发射光谱PES相结合的技术开发研究。Dr.Stomp经常在欧洲、日本及美国的前沿AFM实验室访问,帮助他们搭建复杂的实验系统。您可以在苏黎世仪器公司博客http://www.zhinst.com/blogs/romain/分享他在AFM应用的最新研究成果。
附件下载: