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SN201612466 电子器件光电缺陷无损成像分析系统
2017-03-07| 文章来源: | 【

品名

电子器件光电缺陷无损成像分析系统

型号

FX2-MPL301-SIN

制造商

北京卓立汉光仪器有限公司

主要功能

系统可以实现PL,ELMapping测试功能

技术指标

  1. 整体性能完好。微区光路测试PL EL 寿命等。

  2. 光斑大小2um,能量输出不小于10nw

  3. 样品成像扫描范围大于3*3mm。重复定位优于2um

  4. EL PL 测试范围400-1000nm,光谱分辨率1 nm

  5. LBIC 电流输出信号精度0.5PA. 信号稳定性±2%

可使用设备测试1ns以上的寿命测量。

设备现状

完好

收费标准

面议

管理员

骆群

联系方式

62872730

设备照片




 
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