所属部门:印刷电子学 

  管理员: 张东煜 

  联系电话:2730 

  主要用途:利用红外探测器和光学成像物镜接受被测物体的红外辐射能量分布图形反映到红外探测器的光敏元件上,从而获得红外热像图的设备,这种热像图与被测物体表面的热分布场相对应。该设备主要用于我所自行研制的纳米半导体器件热变化研究。 

  主要指标:测温范围:0~+100; 测试精度:+/- 1K ,误差 +/- 1 %;最小空间分辨率为:15um; 热灵敏度 :25℃时< 25 Mk; 热分辨率:5mk;标准镜头(焦距:25mm;F值:1.4;光圈角度:(21x17)o);精密晶头(F值:3.0;工作距离:195mm);LED光源:520nm;PV-LIT实时分析软件;LabView及MATLAB软件接口 

  存放地:F0101