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SN201407085 半导体参数测量仪
2015-12-18| 文章来源: | 【

品名

半导体参数测量仪

型号

4200SCS 

制造商

美国Keithley公司 

主要功能

用于多种电学器件的测量,电阻、晶体管、反相器、放大器及其他一些集成电路元件。 

技术指标

系统漏电流:10-15~10-14  A,测试电压范围:-200~200 V。测试电流范围:漏电流~0.01 A 

设备现状

完好

收费标准

面议

管理员

吴昆杰

联系方式

0512-62872876 

设备照片

 

 
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