品名
非接触霍尔测试仪
型号
LEI1600
制造商
美国Lehighton
主要功能
半导体电学参数测试
技术指标
样品尺寸:2"-8"或者16mm×16mm的方形样品;
迁移率测量范围:100-20000(cm2/v.sec);
方块电阻测量范围:100-3000(ohm/sq);
载流子面密度测量范围:1E11-1E14(cm-2);
电磁铁磁场强度:1.0T
探头线圈直径:15mm
设备现状
良好
收费标准
不开放
管理员
邓旭光
联系方式
0512-62872879
设备照片