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SN201307066 场发射环境扫描电子显微镜
2017-03-11| 文章来源: | 【

品名

场发射环境扫描电子显微镜

型号

Quanta 250 FEG

制造商

美国FEI 公司

主要功能

可在高真空、低真空(10-130Pa)、环境真空(10-4000Pa)下观察导电和不导电样品,对材料的表面和横截面的微观形貌、成分进行分析,广泛应用于陶瓷材料、金属材料、高分子材料、半导体材料、纳米材料等领域。

可获得样品背散射成分衬度像(BSE)和二次电子像(SE)

配备的能谱无需液氮制冷,可进行快速的点、线、面分布分析,获得能谱的mapping图谱。

技术指标

肖特基场发射电子枪 加速电压:0.2KV-30 kV 放大倍率:30万倍

分辨率:

高真空(HV)1nm at 30kV (SE) 3.0nm at 1kV (SE)

低真空(LV)1.4nm at 30kV (SE) 3.0nm at 3kV (SE)

环境真空(ESEM):1.4nm at 30kV (SE)

背散射电子像:2.5 nm at 30kV (BSE)

• EDS分辨率:优于136 eV,可分析包括B4以上的所有元素

设备现状

完好

收费标准

1)形貌测试500/小时

2)能谱测试600/小时

3)环扫或低真空测试700/小时

注:工作人员上机操作或培训用户,每小时另加收150

管理员

陈家凡

联系方式

0512-62872633

设备照片

 

 
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