品名

场发射环境扫描电子显微镜

型号

Quanta 250 FEG

制造商

美国FEI公司

主要功能

•可在高真空、低真空（10-130Pa)、环境真空(10-4000Pa)下观察导电和不导电样品，对材料的表面和横截面的微观形貌、成分进行分析，广泛应用于陶瓷材料、金属材料、高分子材料、半导体材料、纳米材料等领域。

•可获得样品背散射成分衬度像(BSE)和二次电子像(SE)。

•配备的能谱无需液氮制冷，可进行快速的点、线、面分布分析，获得能谱的mapping图谱。

技术指标

•肖特基场发射电子枪 加速电压：0.2KV-30 kV放大倍率：30万倍

分辨率：

•高真空(HV)：1nm at 30kV (SE) 3.0nm at 1kV (SE)

•低真空(LV)：1.4nm at 30kV (SE) 3.0nm at 3kV (SE)

•环境真空(ESEM):：1.4nm at 30kV (SE)

背散射电子像：2.5 nm at 30kV (BSE)

• EDS分辨率:优于136 eV，可分析包括B⁴以上的所有元素

设备现状

完好

收费标准

（1）形貌测试500元/小时

（2）能谱测试600元/小时

（3）环扫或低真空测试700元/小时

注：工作人员上机操作或培训用户，每小时另加收150元

管理员

陈家凡

联系方式

0512-62872633

设备照片