SN201612473 X射线光电子能谱仪

品名

X射线光电子能谱仪

型号

PHI 5000 VersaProbe II

制造商

ULVAC-PHI

主要功能

XPS可以用来测量:

  1. 元素的定性分析:可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除HHe以外的所有元素。

  2. 元素的定量分析:根据能谱图中光电子谱线强度(光电子峰的面积)反应原子的含量或相对浓度。

  3. 固体表面分析:包括表面的化学组成或元素组成,原子价态,表面能态分布,测定表面电子的电子云分布和能级结构等。

  4. 化合物的结构:可以对内层电子结合能的化学位移精确测量,提供化学键和电荷分布方面的信息。

技术指标

单色化AlKαX射线源:最小束斑不大于10 μm,且可在不大于10μm束斑下,实现图谱采集,化学态成像,深度剖析,以及变角分析。

五轴马达样品台(XYZ移动,倾斜及旋转)

成像XPS:快速成像,最佳空间分辨率优于10 μm

角分辨功能:满足不小于±90°角分辨分析,变角精度好于

荷电中和系统:电子束离子束双束中和,对于PET标样,样品满足PETO-C=O半峰宽小于0.85eV

离子枪:Ar离子能量最大不低于5000 eV,最大离子束斑不小于10mm × 10mm

团簇离子枪:团簇离子枪模式工作气体为氩气,最大加速电压20kV

加热制冷装置:至少可实现最高500oC加热以及最低 -120oC制冷

紫外光电子谱(UPS)。

设备现状

正常

收费标准

600/小时或面议

管理员

卢荻

联系方式

0512-62872899

设备照片

 


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