品名

非接触霍尔测试仪

型号

LEI1600

制造商

美国Lehighton

主要功能

半导体电学参数测试

技术指标

样品尺寸：2"-8"或者16mm×16mm的方形样品；

迁移率测量范围：100-20000（cm2/v.sec)；

方块电阻测量范围：100-3000（ohm/sq)；

载流子面密度测量范围：1E11-1E14（cm-2）；

电磁铁磁场强度：1.0T

探头线圈直径：15mm

设备现状

良好

收费标准

不开放

管理员

邓旭光

联系方式

0512-62872879

设备照片