SN201511276 高加速老化试验箱
品名 |
高加速老化试验箱 |
型号 |
PC-422R8 |
制造商 |
HIRAYAMA |
主要功能 |
用于半导体、电子组件、塑封器件/材料、光器件、PCB等进行老化筛选试验、可靠性和寿命高加速试验、高温/高湿/高压环境下的检测。 |
技术指标 |
压力范围:1~3个标注大气压 温度范围:105~150℃ 湿度范围:65%~100%RH |
设备现状 |
良好,正常开放 |
收费标准 |
100元/小时 |
管理员 |
李翔 |
联系方式 |
13771768198 |
设备照片 |
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