SN201208252 台阶仪(旧)
台阶仪(旧) |
编号:dektak 8(SN201208252) |
工艺类别: 镀膜 |
所属单位: 加工平台 |
管理员: 程伟 |
状态: 正常 |
价格:32/15分钟 |
单位预约时间:15(单位:分钟) |
用途 |
能测量台阶高度和表面纹理,还能测量金属蚀刻速率的均匀性、焊点高度、纤维光学元件和显微透镜。主要特点:1.台阶高度测量重复性高2.是功能最为强大的探针轮廓仪,可最大限度的满足各种应用需要3.简单易用4.作为一款桌面型轮廓仪,扫描范围可达200mm |
主要技术指标 |
台阶高度重复性: 7.5?,1σ在1um标准台阶上最大晶圆尺寸:200mm最大样品厚度:25.4mm(1 in.)每次扫描数据点:最多可达60,000数据点扫描长度范围:标配最大50mm垂直范围:标配262um;可选1mm最大垂直分辨率:1? (6.55微米垂直范围下) |
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