SN201208252 台阶仪(旧)

台阶仪(旧)

编号:dektak 8SN201208252

工艺类别: 镀膜

所属单位: 加工平台

管理员: 程伟

状态: 正常

价格:32/15分钟

单位预约时间:15(单位:分钟)

用途

能测量台阶高度和表面纹理,还能测量金属蚀刻速率的均匀性、焊点高度、纤维光学元件和显微透镜。主要特点:1.台阶高度测量重复性高2.是功能最为强大的探针轮廓仪,可最大限度的满足各种应用需要3.简单易用4.作为一款桌面型轮廓仪,扫描范围可达200mm

主要技术指标

台阶高度重复性: 7.5?,1σ1um标准台阶上最大晶圆尺寸:200mm最大样品厚度:25.4mm1 in.)每次扫描数据点:最多可达60000数据点扫描长度范围:标配最大50mm垂直范围:标配262um;可选1mm最大垂直分辨率:1? (6.55微米垂直范围下)

 

 


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